HNZDL系列可編程直流穩壓大電流電源程控直流恒流源廠家

一、產品特點 

1、采用超大真彩大液晶觸摸屏人機界面，方便直接編程操作。直流開關試驗裝置見其他詳細介紹

2、本機一次可執行不同電壓、電流、延遲時間、運行時間的設定，并可連續循環999999次。

3、輸出電壓可以從零伏起調；輸出電流可以從零預置;

4、具有10組記憶組,可以將以前使用過的參數存儲,以便下次使用時輕松調用。

5、 具有RS232、RS485通訊接口。功率分析儀在測試時出現的數據跳動、效率異常等現象，很多時候與信號的頻率是否準確測量有著很大的關系，本文就對頻率測量的重要性進行分析，希望能幫助大家進行更準確的測量。我們來看看為什么頻率的測量對其他參數會造成如此大的影響。同步源的選擇用過功率分析儀的工程師一定會記得，在對儀器進行設置的時候，一個叫“同步源"的設置選項，該選項包括了各個測試通道的電壓和電流，工程師可以自主來進行選擇。該選項的選擇對直流信號測試影響不大，但對交流信號的測試會有很大的影響。

6、恒定電壓、恒定電流之使用, 可自動交叉變換，維持控制與保護兼顧

7、高頻PWM硬件調整控制技術，反應速度快，輸出穩定  

7、具有輸出穩壓、限流、短路保護和功率器件過熱保護功能； 優良的輸出穩定性能：源電壓效應＜0.5%，負載效應＜1%；

8、輸出直流電壓畸變系數低，干擾小； 在短路和過載故障時，可調節限流電位器來限制輸出電流值，從額定值的50%至105%之間變化；上升和下降時間決定脈沖行為，因此也決定著雕刻速度。混合氣體中的氮會降低脈沖頻率至1kHz左右。這對于過去的很多應用已經足夠，但對于未來的需求來說是不夠的。典型的激光功率和時間關系圖顯示出±5~1%的偏差值。這不適合控制3D雕刻材料。被測試的激光器的激光指向穩定性出奇的好，這對于聲光調制器的使用（對入射角非常敏感）將起著直接的影響。在接近聲光調制器的功率極*，鍺晶體對不良的激光場模式非常敏感。

9、適用于阻性、感性等負載；負載適應性強；

二、主要用途及適用范圍 

1、電解電容器老練，鉭電容器賦能

2、電阻器、繼電器，馬達等電子元件老練，例行試驗

3、實驗室，電子設備、自動測試設備

4、電子檢驗設備、生產線設備、通訊設備

，testo33LL可以測量壓差，然而在燃燒器調試等一些應用，壓力傳感器的精度并不能滿足檢測需求。德圖帶你領略testo33LL煙氣分析儀不一樣的壓力測量技能。安裝方式：將環境溫度傳感器從testo33LL上取下，并安裝在精密壓力探頭上。將精密壓力探頭通訊電纜連接至testo33LL上的環境溫度傳感器插口。將軟管連接至測量壓力接口。按照上述方式完成精密壓力探頭的安裝，即可進行差壓測量，精度可達±.3Pa，測量速率max.1米/秒。交流輸入 15KW以下（單相110V±10%、220V±10%、或者三相380V±15%）

15KW以上（三相380V±15%）

頻率：50HZ、60HZ、400HZ任選

直流輸出 電壓（穩壓值CC）：0- 6000V連續可調  

電流（恒流值CV）：0- 100000A連續可調   

源電壓效應 ≤0.2%有效值 CAN一致性測試主要分為物理層、鏈路層、應用層三大部分測試內容。在CAN網絡中，各節點遵循CAN一致性測試是保證總線穩定運行的重要前提。在物理層中，CAN總線設計規范對于CAN節點的輸入電壓閾值有著嚴格的規定，如果節點的輸入電壓閾值不符合規范，則在現場組網后容易出現不正常的工作狀態，各節點間出現通信故障，所以輸入電壓閾值測試也是CAN物理層一致性測試中的重要部分。測試標準每個廠家在產品投入使用前，都要進行CAN節點的輸入電壓閾值測試，一般都是遵循ISO11898-2輸入電壓閾值標準，具體要求如表1所示。

負載效應 穩壓精度：≤0.5%有效值（阻性負載）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性負載）

輸出紋波 穩壓狀態（CC）：≤0.3%+10mV（rms）（有效值）

穩流狀態（CV）：≤0.5%+10mA（rms）（有效值）

輸出顯示 4位半數字表     精度 ：±1% +1個字

顯示格式  00.00V-19.99V；000.0V-199.9V；0000V-1999V；

電壓電流設定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏（可選）

過壓保護 內置O.V.P保護，保護值為額定值+5%，保護后關閉輸出，重新開機解鎖

過流保護 過載、短路、定電流輸出半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。程控直流恒流源廠家其典型的信噪比為55dB，而8位示波器一般只有35～40dB。是將一個多諧波信號分別輸入到8位和12位示波器，轉化到頻域觀察的圖形。兩者頻域的垂直刻度和基準都一樣。可以看出，12位示波器的頻域噪底比8位示波器低大約lOdB。我們來看一個實際的測試案例：需要對某開關電源產品中的功率MOS管進行分析。其中有一個測試項是MOS管導通損耗。分別用電壓和電流探頭測量漏源電壓Vds與漏極電流Ids，在示波器上將兩個波形相乘得到功率波形，導通期間的功率就是導通損耗。